上海成套院牽頭負責的國際標準ISO 24173：2024《微束分析—電子背衍射取向分析方法導則》(《Microbeam analysis—Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction》已于日前正式發(fā)布，這也是我國在材料微束分析領域制定的首個國際標準。
電子背散射衍射(EBSD)技術已發(fā)展近20年，可實現(xiàn)微米尺寸下金屬等晶體材料的物相、晶粒取向、織構和晶界特性分析，可用于解決在結晶、薄膜制備、半導體器件、形變、再結晶、相變、斷裂、腐蝕等過程中的問題。通過分析發(fā)電設備材料微觀層面全面和精確的晶體結構、析出相、晶界等定性和定量化信息，為發(fā)電設備材料的性能表征和服役壽命計算提供更為有效的試驗數(shù)據(jù)和技術支持。此外，采用電子背散射衍射分析技術對發(fā)電設備高溫部件材料的組織損傷狀態(tài)進行精確地定量化表征，可以實現(xiàn)對鍋爐管道和汽輪機轉子等高溫部件更為有效地壽命評估和剩余壽命計算，不僅為發(fā)電機組安全運行提供了可靠的技術保障，還有助于火電廠進一步降本增效。該項技術為我國發(fā)電設備材料的制造技術及應用水平的提升起到了重要技術支撐，產(chǎn)生了明顯的社會效益和經(jīng)濟效益。
ISO 24173國際標準項目于2021年3月10日正式立項，在ISO/TC202/WG6下開展工作。自2021年10月起，標準工作組先后完成了工作小組草案(WD)、委員會草案(CD)、國際標準草案(DIS)、最終國際標準版草案(FDIS)階段的意見征集及文本等修改完善。歷時近3年，2024年2月9日，該項國際標準正式出版。
此次主導ISO國際標準的制修訂工作，不僅有利于提升上海成套院及集團公司在國際國內(nèi)同行業(yè)中的地位和影響力，還將我國的相關行業(yè)技術要求及時反映到國際標準之中，為推動中國發(fā)電設備事業(yè)高質量發(fā)展提供堅實的支撐。(張作貴 鞠亞楠)
評論